|
Patents
登録済み特許 1. 特許第4455046号（2008年2月12日） 安藤敏夫、古寺哲幸、酒井信明 「アクチュエータ制御方法及びその装置並びにに走査型プローブ顕微鏡」 2. 特許第4448493号（2010年1月29日） 安藤敏夫、林美明 「走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法」 3. 特許第4083517号（2008年2月22日） 安藤敏夫、酒井信明 「走査型プローブ顕微鏡」 4. 特許第4474556号（2010年3月19日） 安藤敏夫、坂下満、内橋貴之 「走査型プローブ顕微鏡」 5. 特許第4496350号（2010年4月23日） 安藤敏夫、内橋貴之、古寺哲幸、高橋直尚 「原子間力顕微鏡」 6. 特許第4646049号(2010年12月17日) 安藤敏夫，斎藤究，戸田明敏，「走査型プローブ顕微鏡」 7. 特許第4797150号(2011年8月12日) 安藤敏夫，戸田明敏，「走査機構およびこれを用いた機械走査型顕微鏡」 8. 特許第4931088号（2012年2月24日） 安藤敏夫「走査型プローブ顕微鏡およびアクティブダンピング駆動制御装置」 9. 特許 第5164147号（2012年12月28日） 安藤敏夫・内橋貴之・古寺哲幸・山下隼人「走査プローブ顕微鏡およびカンチレバー駆動装置」 10. 特許第5252389号（2013年4月26日） 安藤敏夫・内橋貴之・山下隼人「走査型プローブ顕微鏡」（高速位相計測） 11. 特許第5268008号（2013年5月17日） 福間剛士・安藤敏夫・ 岡崎康孝「 走査型プローブ顕微鏡 用のスキャナー装置」 12. 特許第5277378号（2013年5月31日） 安藤敏夫・内橋貴之・古寺哲幸・山本哲朗，「走査プローブ顕微鏡」 13. 特許第5633089号 (2014年10月24日） 安藤敏夫・岡崎康孝・内橋貴之，「原子間力顕微鏡及びそのカンチレバー支持具」（2021年9月1日権利放棄） 14. 特許第6712812号（2020年6月4日） 渡邊信嗣・安藤敏夫, 「プローブ走査機構、プローブ走査装置および走査型プローブ顕微鏡」 15. 特許6950954号 （2021年9月28日） Sun Linhao, 執行航希, 渡辺信嗣, 安藤敏夫, 液体充填方法、ＳＩＣＭ用プローブの製造方法、ＳＩＣＭ用プローブ及び ＳＩＣＭ 16. 特許7477211号（2024年4月22日）WO-A1-2022/118728 福田真悟, 安藤敏夫, 原子間力顕微鏡、制御方法、及び、プログラム
Issued US Patents 1. No. US 6617761B2 (Sep. 9, 2003) T. Ando and A. Toda, "Scanning unit and scanning microscope having the same. 2. No. US 6118121 (Sep. 12, 2000) T. Ando and Y. Hayashi, "Probe scanning mechanism for a scanning probe microscope" 3. No. US 5912461 (June 15, 1999) T. Ando and Y. Hayashi, "Probe scanning mechanism for a scanning probe microscope" 4. No. US 7556968 (July 2, 2009) T. Ando and Y. Hayashi, "Scanning probe microscope and molecular structure change observation method" 5. No. US 7975315 B2 (July 5, 2011) T. Ando, T. Uchihashi, N. Kodera, N. Takahashi, "Atomic Force Microscope" (Fast detection of resonant frequency shift of a cantilever) 6. No. US 7975314 B2 (July 5, 2011) T. Ando, "Scanning Probe Microscope and Active Damping Drive Control Device" (Nested loop method for active damping of z-scanner) 7. No. US 7958565 B2 (June 7, 2011) T. Ando, T. Uchihashi, N. Kodera, H. Yamashita, "Scan type Probe Microcope and Cantilever Drive Device" (Laser driving of a cantilever and compensation method) 8. No. US 7954165 B2 (May 31, 2011) T. Ando, M. Sakashita, T. Uchihashi, "Scanning Probe Microscope" (Drift compensation method) 9. No. US 8217367 B2 (July 10, 2012) T. Fukuma, T. Ando, and Y. Okazaki, "Scanning device for scanning probe microscope" (New counterbalance method for z-scanner) Issued European Patents 1. No. EP 1898204 (Sep. 12, 2018) T. Ando, T. Uchihashi, N. Kodera, N. Takahashi," Atomic force microscope" 2. No. EP 2063250 (Sep. 5, 2018) T. Ando, T. Uchihashi, N. Kodera, H. Yamashita,"Scan type probe microscope and cantilever drive device" 3. No. EP 1972920B1 (Sep. 26, 2018) T. Uchihashi, T. Ando, H. Yamashita, "Scanning probe microscope" (for fast phase detection) 4. No. EP-2060901B1 (Dec. 18, 2019) T. Ando, "Scan type probe microscope and active damping drive control device"
5. No. 112009001338.4 (Aug. 5, 2021, Germany)
国内出願 1. 安藤敏夫，戸田明敏，「走査機構およびこれを用いた機械走査型顕微鏡」，金沢大学，オリンパス，2001年2月9日，特願2001-034391 2. 安藤敏夫，斎藤究，戸田明敏，「走査型プローブ顕微鏡」，金沢大学，オリンパス，2001年7月30日，特願2001-230210 3. 安藤敏夫，酒井信明，「走査型プローブ顕微鏡」，金沢大学，オリンパス，2002年9月4日，特願2002-259265 4. 安藤敏夫，古寺哲幸，酒井信明，「アクチュエータ制御方法及びその装置並びに走査型プローブ顕微鏡」，金沢大学，オリンパス， 2003年12月25日，特願2003-431554 5. 安藤敏夫，林美明，「走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法」，金沢大学，オリンパス，2004年1月9日，特願2005-507986 6. 安藤敏夫，内橋貴之，古寺哲幸，山下隼人，「走査プローブ顕微鏡及びカンチレバー駆動装置」，金沢大学，2005年5月31日， 特願2005-159910. 7. 安藤敏夫，坂下満，内橋貴之，「走査プローブ顕微鏡」，金沢大学，2005年12月19日，特願2005-364797. 8. 内橋貴之，安藤敏夫，山下隼人，「高速・高感度位相検出法及び高速AFMの高感度化」，金沢大学，2005年12月20日，特願2005-366395. 9. 安藤敏夫，内橋貴之，古寺哲幸・山下隼人，「走査プローブ顕微鏡およびカンチレバー駆動装置」，金沢大学，2006年5月26日，PCT/JP2006/310535. 10. 安藤敏夫，内橋貴之，古寺哲幸，高橋尚久，「原子間力顕微鏡」，金沢大学，2006年9月4日，特願2006-238886. 11. 安藤敏夫，「走査プローブ顕微鏡およびアクティブダンピング駆動制御装置」，金沢大学，2006年9月6日，特願2006-241920. 12. 安藤敏夫，坂下満，内橋貴之，「走査プローブ顕微鏡」，金沢大学，2006年10月12日，PCT/JP2006/320415. 13. 安藤敏夫，内橋貴之，山下隼人，「走査プローブ顕微鏡」，金沢大学，2006年12月12日，PCT/JP2006/324723. 14. 安藤敏夫，「走査プローブ顕微鏡およびアクティブダンピング駆動制御装置」，金沢大学，2007年7月27日，PCT/JP2007/064731. 15. 安藤敏夫，内橋貴之，古寺哲幸，高橋尚久，「原子間力顕微鏡」，金沢大学，2007年7月27日，PCT/JP2007/064732. 16. 福間剛士，安藤敏夫，岡崎康孝，「走査プローブ顕微鏡のスキャナー装置」，金沢大学，「特願2008-147041，2008年6月4日. 17. 安藤敏夫，内橋貴之，古寺哲幸，山本哲朗，「走査プローブ顕微鏡」，金沢大学，特願2008-275981，2008年10月27日. 18. 安藤敏夫，岡崎康孝，内橋貴之，「原子間力顕微鏡及びカンチレバー支持具」，金沢大学，2010年6月1日，特願2010-126027． 19. 安藤敏夫, 福田真悟, 「走査型プローブ顕微鏡」, 金沢大学, 2014年9月25日, 特願2014-194987. 20. 渡辺信嗣, 安藤敏夫, 「プローブ走査機構, プローブ走査装置および走査型プローブ顕微鏡」, 金沢大学, 2015年11月24日, 特願2015-229108 21. 古寺哲幸，米川拓臣，執行航希，渡辺信嗣, 安藤敏夫，「電気生理学的解析を可能にした原子間力顕微鏡」，金沢大学，2019年8月26日， 特願 2019-153689 22.
古寺哲幸，高野純，執行航希，開発秀星，渡辺信嗣，安藤敏夫，「マニピュレータ付き原子間力顕微鏡」，金沢大学，2019年8月19日， 23. 古寺哲幸，清水将裕，安藤敏夫，「走査型プローブ顕微鏡及びZ駆動装置」，金沢大学，2019年6月27日，特願2019-120245 24. 安藤敏夫, 福田真悟, 「原子間力顕微鏡、制御方法、及び、プログラム」, 金沢大学, 2020年12月1日, 特願2020-199938 25.
古寺哲幸, 巽 和真, 梅田 健一, 安藤 敏夫,
「信号処理装置、駆動制御装置、及び、走査型プローブ顕微鏡」,
金沢大学, 2022年9月6日, 海外出願 1. 安藤敏夫，内橋貴之，古寺哲幸，山下隼人、「走査プローブ顕微鏡およびカンチレバー駆動装置」、金沢大学、2007年12月19日、6756635.6（欧州）. 2. 安藤敏夫，内橋貴之，古寺哲幸，山下隼人、「走査プローブ顕微鏡およびカンチレバー駆動装置」、金沢大学、2007年11月29日、11/915,940（米国） 3. 安藤敏夫、「走査プローブ顕微鏡およびアクティブダンピング駆動制御装置」、金沢大学、2007年7月27日、PCT/JP2007/064731. 4. 安藤敏夫，内橋貴之，古寺哲幸, 高橋尚久、「原子間力顕微鏡」、金沢大学、2007年7月27日、PCT/JP2007/064732. 5. 安藤敏夫，内橋貴之，山下隼人，「走査プローブ顕微鏡」、金沢大学、2006年12月12日、PCT/JP2006/324723. 6. 安藤敏夫，坂下満，内橋貴之，「走査プローブ顕微鏡」、安藤敏夫・坂下満・内橋貴之、金沢大学、2006年10月12日、PCT/JP2006/320415. 7. 安藤敏夫，内橋貴之，古寺哲幸，山下隼人、「走査プローブ顕微鏡およびカンチレバー駆動装置」、金沢大学、2006年5月26日、PCT/JP2006/310535. 8. 安藤敏夫，林美明、「走査型プローブ顕微鏡および分子構造変化観測方法」、金沢大学・オリンパス、2004年1月9日、PCT/JP2004/000110. 9. 渡辺信嗣、安藤敏夫、「プローブ走査機構、プローブ装置および走査プローブ顕微鏡」、金沢大学、2016年11月22日、PCT/JP2016/084534. |